一、產(chǎn)品概述：

該設(shè)備適用于學校，工廠，軍工，科研單位，實驗室、高校等單位，來檢測各種電子元氣件在高溫，低溫或高低溫交替環(huán)境下的各項性能指標、貯存和使用的適應(yīng)性。

.

二、技術(shù)參數(shù)：

海向快速溫變試驗箱 性能測試箱半導體

三、箱體結(jié)構(gòu)：

l  箱體造型美觀大方，采用數(shù)控機床加工成型，并采用無反作用把手，操作簡便。

l  箱體內(nèi)膽采用高級不銹鋼（SUS304）鏡面板，箱體采用冷軋鋼板靜電噴塑，增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。

l  大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內(nèi)狀況。箱體左側(cè)配有測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用。(孔徑或孔數(shù)須增加定貨時說明)。機器底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動輪。

四、控制系統(tǒng)：

l  7寸可程式彩色觸摸控制器。

l  采用大屏觸摸屏模式熒幕畫面、熒幕操作簡單、程式編輯容易。

l  控器操作界面設(shè)中英文可供選擇、即使運轉(zhuǎn)曲線圖可由屏幕顯示。

l  具有100組程式1000段999循環(huán)步驟的容量、每段時間設(shè)定值為99小時59分鐘。

l  資料及試驗條件輸入后、控制器具有熒屏鎖定功能、避免人為觸摸而停機。

l  具有PID自動演算功能、可將溫度變化條件立即修正、使溫度控制更為精確穩(wěn)定。

l  具有RS-232或RS-485通訊界面、可在電腦上設(shè)計程式、監(jiān)控試驗過程并執(zhí)行開關(guān)機功能。

l  可連接打印機或485通訊接口、用電腦顯示、并打印溫度和時間曲線、為試驗過程數(shù)據(jù)儲存于回放提供有力保證。

五、制冷系統(tǒng)：

l  制冷機采用法國原裝“泰康"全封閉壓縮機。

l  冷凍系統(tǒng)采用單機低溫回路系統(tǒng)設(shè)計。

l  采用多翼式送風機強力送風循環(huán)，避免任何死角，可使測試區(qū)域內(nèi)溫濕度分布均勻。

l  風路循環(huán)出風回風設(shè)計，風壓、風速均符合測試標準，并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時間快。

l  升溫、降溫獨立可提高效率，降低測試成本，增長壽命，減低故障率。

六、符合標準：

l  GB-2423.1-89（IEC68-2-1）試驗 A：低溫試驗方法。

l  GB-2423.2-89（IEC68-2-2）試驗 B：高溫試驗方法。

l  GJB360.8-87（MIL-STD-202F）高溫壽命試驗。

l  GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗方法。

l  GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法。

l  GB/T 2423.2-2008 試驗 B《高溫試驗方法》

l  GB10586-89 低溫試驗箱技術(shù)條件

l  GB/T10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件

l  GB10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件

l  GB11158 高溫試驗箱技術(shù)條件

l  GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 A：低溫試驗方法

l  GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 A：高溫試驗方法

l  IEC60068-2-1.1990 低溫試驗箱試驗方法

l  IEC60068-2-2.1974 高溫試驗箱試驗方法

海向快速溫變試驗箱 性能測試箱半導體